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當(dāng)前位置：化工儀器網(wǎng)-光譜網(wǎng)-企業(yè)動態(tài)列表-網(wǎng)絡(luò)講堂報名中| High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

網(wǎng)絡(luò)講堂報名中| High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

2021-06-17 16:12 來源： 布魯克（北京）科技有限公司
 會議邀請：

     在許多應(yīng)用領(lǐng)域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領(lǐng)域，半導(dǎo)體（尤其是硅）是不可少的基礎(chǔ)材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識別和定量、缺陷的檢測或光學(xué)器件的功能測試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導(dǎo)體工業(yè)中一項關(guān)鍵而艱巨的任務(wù)。

     在免費的兩部分網(wǎng)絡(luò)研討會中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時參加。

主題：

High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy


語言：英文（English）

時間：

第一部分 6月14日(周一) 晚上10點-11點 
第一部分（重播） 6月15日(周二)下午3點-4點
第二部分 6月21日(周一) 晚上10點-11點
第二部分（重播） 6月22日(周二)下午3點-4點

（以上為北京時間）


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關(guān)鍵詞： 傅立葉變換紅外光譜

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