探測(cè)光譜范圍

280  -  380 nm

350     -   500  nm

320  -  650 nm

480     -   950 nm

420  -  800 nm

1100  -   1650 nm

850 - 1500 nm

—

檢測(cè)模式

透射/反射/背激發(fā)

檢測(cè)時(shí)間窗口

8 ns

零點(diǎn)前信噪比

≤0.1 mOD

時(shí)間分辨率

≤1.5倍飛秒激光脈寬

自動(dòng)化系統(tǒng)

全自動(dòng)光路切換、自動(dòng)化光路校準(zhǔn)

樣品倉(cāng)

支持溶液、薄膜、粉末樣品

外場(chǎng)調(diào)控

低溫/高壓/磁場(chǎng)等其他客戶(hù)所需條件

軟件

數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析擬合等

空間分辨率

≤1 μm

光譜探測(cè)范圍

400-800 nm

載流子遷移精度

100 nm

時(shí)間窗口

≤450 μs（可拓展至ms）

時(shí)間精度

1 ns

其他可拓展

中紅外模塊探測(cè)范圍

2-12 μm

TCSPC模塊時(shí)間分辨率

≤100 ps

超快熒光模塊時(shí)間分辨率

≤1.5倍激光脈寬

角分辨模塊

可拓展角分辨檢測(cè)