能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。 光譜分析儀可以說是檢測(cè)儀器中的“超能先生”，在生物、能源環(huán)境、食品安全等領(lǐng)域都能看到它的身影。

X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：

X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器，高清攝像頭，高度激光，膜厚測(cè)試儀，信號(hào)檢測(cè)電子電路。

X熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)

7 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

X熒光測(cè)厚儀性能指標(biāo)：

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶;任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測(cè)元素：CI～U

檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像頭

測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm

以上就是一六儀器整理分享的關(guān)于X熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求及性能指標(biāo)。江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的技術(shù)企業(yè)。想了解更多相關(guān)產(chǎn)品，歡迎持續(xù)關(guān)注。