金屬鍍層的膜厚測(cè)試的方法主要有金相法、渦電流法、電磁式、庫(kù)倫法以及咱們的EDXRF。下面和一六儀器了解一下測(cè)厚儀分類及優(yōu)缺點(diǎn)。

　　渦電流、電磁式、庫(kù)倫法也被稱為便攜式測(cè)厚儀;

　　優(yōu)點(diǎn)：價(jià)格便宜

　　缺點(diǎn)：局限性大、能測(cè)試產(chǎn)品范圍極小，小樣品、10um以內(nèi)膜厚測(cè)試誤差較大，部分需要破壞

　　金相法;

　　優(yōu)點(diǎn)：鍍層膜厚數(shù)值參考價(jià)值高，準(zhǔn)確值相對(duì)較高

　　缺點(diǎn)：前期準(zhǔn)備時(shí)間長(zhǎng)、破壞性測(cè)試、設(shè)備價(jià)格高，效率較低

　　X熒光測(cè)厚儀(EDXRF);

　　優(yōu)點(diǎn)：非接觸式無(wú)損檢測(cè)、測(cè)試時(shí)間短、效率高、產(chǎn)品大小無(wú)要求，厚度范圍低檢出限達(dá)0.005um

　　缺點(diǎn)：膜厚測(cè)試厚度上限受能量大小限制，超過(guò)一定膜厚測(cè)試無(wú)法檢測(cè)、價(jià)格稍微高

　　江蘇一六儀器有限公司是一家以聚焦核心科技、打造民族精品為使命，研發(fā)和制造分析儀器的新技術(shù)企業(yè)。公司現(xiàn)有專用高性能X熒光測(cè)厚儀、多功能全自動(dòng)X熒光測(cè)厚儀、多用途全性能X熒光光譜儀、真空腔體X熒光光譜儀等多個(gè)系列幾十種型號(hào)儀器，可廣泛的應(yīng)用于新能源、半導(dǎo)體、精密電子、環(huán)保rohs、地質(zhì)地礦、電子元器件、貴金屬行業(yè)、五金衛(wèi)浴、5G通訊、電鍍產(chǎn)業(yè)、航空航天等行業(yè)領(lǐng)域。

　　以上就是一六儀器整理分享的關(guān)于測(cè)厚儀分類及優(yōu)缺點(diǎn)，希望可以幫助大家了解儀器。想了解更多相關(guān)資訊，歡迎持續(xù)關(guān)注。