ICP-OES 作為常量元素分析的首選檢測手段，在環(huán)境、材料、食品等領(lǐng)域大顯身手，幾十年間分析工作者發(fā)現(xiàn)并積累了大量的經(jīng)驗對樣品組分進行準確定量測試，其中為關(guān)鍵的就是元素譜線的選擇和信號背景的校正；元素譜線在儀器軟件或者行業(yè)標準中都有佳推薦，而信號背景的校正依賴分析人員的經(jīng)驗。不同樣品的基質(zhì)各不相同，背景信號的強度和結(jié)構(gòu)也千差萬別，為了應對這一復雜挑戰(zhàn)，安捷倫針對不同基質(zhì)樣品準備了三個先進又簡單、快速且準確的背景校正算法，若使用得法，將會把您在 ICP-OES 準確定量方面的經(jīng)驗度，直接“拉滿”。

離峰背景校正算法  (OPBC) ：

ICP-OES 中應用*的背景校正算法，簡單分為左背景、右背景和左右平均校正，在分析簡單基體亦或復雜基體中信號較高的元素時，如果連續(xù)背景信號比較平滑，鄰近分析物峰間隔較遠，只需讀出元素信號強度和一個信號背景強度，兩者相減即可計算出凈強度，得出準確結(jié)果；一句話總結(jié)：“元素信號本身優(yōu)秀（高挑而且纖細）即使不校正（修圖）也是*的”。如圖 1 中鉛的信號峰接近標準高斯峰，左右背景簡單，采用離峰背景校正算法就能得到準確的結(jié)果。

擬合背景校正算法 （FBC） ：

對于更復雜的背景結(jié)構(gòu)或者鄰近分析物峰的拖尾彎曲，OPBC 的誤差很大，如圖 2 面臨的情況；安捷倫擬合背景校正算法，采集分析物峰、左右干擾物峰、背景信號等數(shù)據(jù)，使用迭代法估計峰的寬度和位置，使用小二乘法測定偏置量、斜率以及峰高，然后整合所有數(shù)據(jù)的偏置分量對非結(jié)構(gòu)化連續(xù)本底建模，整合所有數(shù)據(jù)的斜率分量對大寬峰的側(cè)翼建模，后準確擬合出背景信號強度，扣除后得到準確結(jié)果。通俗一點解釋，就是“采用優(yōu)化過的數(shù)學算法，無需進行方法開發(fā)就能夠準確的幫你校準出一幅好圖” 。圖 2 是2000 mg/L 鋁中 Pb 的發(fā)射譜線，Al 220.467 nm 譜線展寬的峰翼重疊導致在 Pb 220.353 nm 處的曲線出現(xiàn)較高的背景信號，F(xiàn)BC 可成功校正此背景（圖中虛線）。

自動曲線擬合算法 (FACT) ：

兩者將合二為一，光學組件分不清楚， FBC 也無能為力；安捷倫自動曲線擬合算法對每個光譜組分模型進行分析，并擬合為高斯曲線獲得譜峰的數(shù)學描述，通過殘差分析和深度解卷積網(wǎng)絡(luò)算法從原始光譜中解析（精細剝離）出分析物信號。土壤樣品中鐵為主量元素一般比鎘的含量高 6 個數(shù)量級，兩者的譜線僅僅相差 0.006nm 極易造成譜線強重疊，所以土壤中痕量的鎘很難準確測定。高量鐵對鎘的光譜干擾見圖 3 ，藍色為溶液中約10000mg/L Fe 和約100 μg/L Cd 的光譜重疊譜線，紅色為解析出的 214.445 nm Fe 譜線，綠色為解析出的214.439 nm Cd 譜線，重疊譜線強度是實際 Cd 元素譜線強度的數(shù)倍，不使用 FACT 解析將會使結(jié)果嚴重偏高。